项目简介
项目名称
同步辐射高分辨X射线发射谱方法及其在材料电子结构中应用
项目批准号
11175244
学科分类
A050703
数理科学部
_物理学Ⅱ
_同步辐射技术及其应用
_束线光学技术和实验方法
资助类型
数理科学
负责人
黄宇营
依托单位
中国科学院上海应用物理研究所
批准年份
2011
起止时间
201201-201512
批准金额
95.00万元
摘要
X射线吸收谱学是研究材料局域原子和电子结构的一种重要分析方法，它能提供吸收原子周围几何和电子结构信息，如键长、键角、配位数和化学价态等，可用于表征材料结构和特征，而同步辐射高分辨X射线发射谱学（High Resolution X-ray Emission Spectroscopy），是利用高能量分辨分析晶体谱仪，来研究电子跃迁发出的更精细的光谱。这样两种方法的结合，可以研究过渡金属及Pt系复杂d电子环境，镧系稀土元素和锕系复杂f电子环境的电子结构问题，从而获得具有这类电子关联特性的铁基超导材料、纳米催化材料以及核能材料更精细的电子结构。目前这是国际第三代同步辐射实验技术和先进材料电子结构分析发展的最新的一种实验方法结合。在上海光源上发展并应用此新技术，将有助于更深入认识铁基超导材料、纳米催化材料以及核能材料等这类复杂电子体系材料的电子结构与材料功能的关系，为能源与环境科学研究做出重要贡献。
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