European Radiology：三维晶体Vue成像在正常妊娠20-32+6周胎儿大脑侧裂评估中的应用

众所周知，大脑侧裂（SF）是大脑皮层的主要脑表面标志。额叶和颞叶在脑岛上的汇合导致了SF的形成。由于SF是脑表面动态变化的主要标志，其相对固定的位置和形状可以作为评估皮质发育的解剖学标志。了解SF的正常发育是评估胎儿大脑发育的关键因素之一。在怀孕早期，SF在大脑的外侧出现一个光滑的、浅的印记。妊娠20周时，前后缘变为梯形。随着妊娠期的进展，脑室盖从后上到前下关闭，SF的前部将在出生后2年内完全关闭。岛盖的发育可受子宫内各种损伤的影响，导致发育停滞或畸形，从而导致SF的形态异常。

岛盖的发育迟缓或畸形可能导致严重的神经系统发育迟缓，从而导致产后儿童出现严重的癫痫和智力低下。由于大脑发育异常对胎儿和家庭的严重影响，SF的评估在孕中期和孕晚期至关重要。随着胎儿中枢神经系统（CNS）超声评估的快速发展，该技术已成为胎儿脑部异常产前筛查的基本组成部分。

近年来，随着三维（3D）超声颅脑技术的快速发展，临床上出现了利用Crystal Vue进行胎儿脑表面三维成像，其三维可视化图像可用于观察脑表面沟的发育和变化。结合胎儿神经科学的发展，为进一步评估胎儿在子宫内大脑皮层的发育提供了机会。

近日，发表在European Radiology杂志的一项研究使用三维晶体成像（3D-CVI）评估妊娠20-32+6周时SF的发育模式，制定了正常妊娠20-32+6周时脑岛无覆盖面积和周长测量的参考范围，并探讨了脑岛无覆盖面积和周长测量的观察者内和观察者间重复性。

本项研究使用三维CVI成像评估了妊娠20-32⁺⁶周的胎儿脑SF的正常发育情况。在三维（3D）图像上测量脑岛的未覆盖面积和周长，并为正常妊娠期20-32⁺⁶周的脑岛未覆盖面积和周长建立参考范围。检查观察者内部和观察者之间对脑岛未覆盖面积和周长测量的可重复性。 

研究共评估了286个妊娠20至32⁺⁶周的正常胎儿。在妊娠25周时，SF首先呈梯形，随着胎龄的增加逐渐变成三角形，然后从后上方到前下方关闭。脑岛的未覆盖面积和尺寸呈现抛物线曲线，随着GA和头围（HC）的增加先增加后减少。建立了正常妊娠20-32⁺⁶周期间脑岛未覆盖面积和周长测量的参考范围。观察者内部和观察者之间的协议是可重复的（所有ICC>0.850）；每个图中的Bland-Altman图（95限度协议（LOA））刻度都有超过95%的点。 

图 使用超声三维晶体成像（3D-CVI），妊娠20至32周期间的SF外观。FL，额叶；PL，顶叶；OL，枕叶；TL，颞叶；IN，岛叶；CS，中央沟；PrS，前中央沟；PcS，后中央沟；STS，颞上沟；ITS，颞下沟；IPS，顶内沟；IFS，额下沟

研究表明，3D-CVI可提供评估正常妊娠20-32⁺⁶周胎儿SF的三维模型，成为可以作为皮质发育畸形的筛查工具。三维CVI技术和MRI在产前评估胎儿大脑时可以起到补充作用，指导临床后续的随访和转诊。

原文出处：

Fei Yi,Chunquan Zhang,Yaqi Zou,et al.Three-Dimensional Crystal Vue Imaging technology assessment of Sylvian fissures at 20-32+6 weeks' normal gestation.DOI:10.1007/s00330-022-09253-w