项目简介
项目名称
聚焦型均匀色散晶体光谱仪研究
项目批准号
11005098
学科分类
A050506
数理科学部
_物理学Ⅱ
_粒子物理与核物理实验方法与技术
_探测技术和谱仪
资助类型
数理科学
负责人
阳庆国
依托单位
中国工程物理研究院流体物理研究所
批准年份
2010
起止时间
201101-201312
批准金额
20.00万元
摘要
目前在Z箍缩(Z-pinch)和激光惯性约束聚变(ICF)诊断领域，主要采用常规几何面型(如平面、柱面、锥面、椭圆面和球面等)晶体光谱仪来测量高温等离子体X光光谱。它们的共同特点是：X光在探测器上的色散是不均匀的，即谱仪的线色散率是随波长发生变化的。
本项目拟开展聚焦型均匀色散晶体光谱仪研究，针对具体物理诊断需求，利用逆向设计方法，开展谱仪布局参数和特殊线形旋转对称分光晶体面型参数设计，同时实现聚焦(提高谱线亮度和实现空间分辨成像)和光谱色散均匀化(常线色散率)的良好效果，克服现有晶体光谱仪中光谱分布不均匀、需要光谱图像坐标校正以及光谱分辨力随波长存在差异等诸多不足点，从而最大程度地为Z箍缩和激光惯性约束聚变实验物理研究提供优质光谱图像数据。
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