项目简介
项目名称
利用X射线激光诊断中、高Z材料等离子体电子密度分布
项目批准号
11075146
学科分类
A050606
数理科学部
_物理学Ⅱ
_等离子体物理
_等离子体诊断
资助类型
数理科学
负责人
王琛
依托单位
中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
批准年份
2010
起止时间
201101-201312
批准金额
38.00万元
摘要
在高温稠密等离子体研究中，由于各种原因，理论模拟程序目前还不完善，需要进行一些实验来进行比对、校验。独特的优点使得软X射线激光探针诊断技术成为进行这些实验的一种很好的方法。其(10~30)nm的波长，既不短也不长，正适合诊断理论最感兴趣的临界面附近的等离子体，并且能够获得优于1微米的诊断空间分辨率；良好的相干性，使其能够实现干涉诊断从而直接给出等离子体电子密度。这些明显的优势已在诊断低Z材料等离子体中很好的体现，并已对程序的校验起到了一定的作用。为了更好的校验程序，迫切需要进行更大范围，特别是中、高Z材料等离子体的实验诊断。在此背景下，本项目拟定开展利用软X射线激光探针干涉方法对中、高Z等离子体进行实验诊断的研究。通过仔细研究以往的实验，制订了比较合理的消除中、高Z材料等离子体自发辐射对信号影响的方案，有希望得到预期的结果，为相关理论程序提供检验的实验样本。
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